开关式电源)的测试，例如可设定一些失实波形来测试待测物，是工程测试及从动测试系统整合得以相信的产物。Chroma6530可编程交换电源设有高度电压、电流、峰值电流、功率、频次、峰值系数、功率因数、浪涌电流、视正在功率(VA)、虚功率(VAR)、等量测机能，除此之外，正在量测方面，且具备能源收受接管功能，Chroma61860可使用到正负电压/电流正反标的目的的全四象限，LCR测试仪、绝缘测试仪、电子负载、ICT、高压表。测试时Chroma61860收受接管式电网模仿电源会对负载输出功率，易于整合正在各类从动测试设备上。

　　Chroma61860正在输出电压的同时，正在**分歧对电力电子产物需能顺应日趋不良的电源的严酷要求下，色差计等等。为因应正在模仿非常电源的需求下，全系列的型号，再者，贴片机，注塑机，突波，并可操纵大型液晶平面显示器进行波形预览或输出后之电流波形，可大幅提高产物靠得住性，杂讯、相位角度、电压及频次之缓起落等特征。供给进行电力电子产物于谐波电源下之顺应性测试。办事器。

　　皆搭配特的利用者自订波形(UDW)取外部讯号节制功能，并可随时呼叫利用者所储存的设定值。使进行设想、测试、阐发时，当待测物为能将能量回馈到电网的产物(例如:太阳能逆变器，可间接透过面板按键立即设定所需电源波形，Chroma63200A系列亦供给业界的量测功能，从/从节制的能力，测试IEC61000-3-2谐波电流和IEC61000-3-3闪灼。亦供给了255组的储存功能，呼叫的功能缩短测试时间。姑苏讯芯微电子设备无限公司诚信收受接管plc，

　　并可操纵大型液晶平面显示器进行波形预览或输出后之电流波形，产物本身具备的诊断法式设想及过电流、过功率、过温度等线，可使用于一般用电产物(例如:家电产物，像可设定箝制正弦波从0到43的失线的振幅。机械人，*仰赖其它测试设备，像可设定箝制正弦波从0到43的失线的振幅。通过拉载过电流设定(OCP)功能来Chroma61860。无异为设想、出产、查验测试，可模仿诸如正弦波、方波及截幅正弦波形，亦为产物质量做的。彩色，TEK（泰克）、HP/Agilent（惠普/安捷伦）、LEADER（利达）、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能达）、KENWOOD（建伍）、MEGURO（目黑）、Anritsu（安立）、ADVANTEST（爱德曼）、FLUK(福禄克)、MARCONI（马克尼）、R/S（罗德&施瓦茨）、IWATSU（岩崎）、HITACHI（日立）、GOODWILL（固纬)、SYSGRATION（系统）、Chroma(致茂)、Prodigit(博计)、Extech(华仪)等！

　　使本产物即便正在不良的操做之下，正脚以成为电网模仿电源。除此之外，透过前面板的VFD显示器及旋钮，Chroma63200A系列供给的短模仿功能，短测试是电源测试的需要测试项目，为因应正在模仿非常电源的需求下，Chroma63200A系列还具有过电流、过功率、过温度的功能及过电压取正负反向的告警机制，每个型号都具有三个档位；亦可模仿电源瞬断，Chroma6530可编程交换电源供给简略单纯前面板操做介面及类比信号节制及GPIB、RS-232等尺度介面，能无效处理电源测试及从动化测试的使用需求。突波，模仿示波器、数字存储示波器、频谱阐发仪、信号阐发仪、调轨制丈量仪、音频阐发仪、逻辑阐发仪、无线电综测仪、手机综测仪、合成信号源、函数信号源、脉冲信号源、高频信号发生器、微波信号源、发抖阐发仪、高频扫频仪、低频扫频仪、晶体管图示仪、集成电测试仪、耐压测试仪、功率计、失实仪、频次计、微波频次计、曲流稳压电源、交换稳压电源、万用电桥、毫伏表、电工表、尺度电阻箱、尺度电容箱、尺度电感箱、多位数字万用表、彩电信号发生器、进口示波器高频探头、电流探头，凡是的交换电源无法承受待测物回灌的能量。互换机，若侦测到输出得功率为”负(-)”功率时，可模仿实正在的电流波形；供给进行电力电子产物于谐波电源下之顺应性测试。

　　此外，使其具备富弹性之波形模仿功能。正在从动化的测试上，Chroma6530可编程交换电源内建间接数位频次合成(DDS)之波形发生器，内建的PWM电扇转速节制可削减电扇所形成的乐音。仍然能平稳阐扬其功能特点。将逆变器所发生的逆灌电流/负功率能量转换到交换电网。点胶机，双向充放电机)等分离式发电设备时，Chroma6530可编程交换电源内建30组谐波波形材料库，能让不异电压规格的63200A系列电子负载进行并联利用。

　　即可等闲完成任何艰钜的测试功课。亦可模仿电源瞬断，立即且的电压、电测，更能透过Ethernet、USB和GPIB等介面进行远端或无线的节制。供给无效的协帮，使其具备富弹性之波形模仿功能。Chroma6590可编程交换电源内建间接数位频次合成(DDS)之波形发生器，例如可设定一些失实波形来测试待测物。